当社、アルテラ社、ITS社の共同発表論文が、この度、ＳＷＴＷの２００５年度「Best　Overall Award」を受賞いたしました。

　「Best　Overall Award」とは、SWTWで発表されたすべての論文の中から最も優秀な論文1件に贈られる賞で、今般、論文「Comprehensive Approach to Control Contact Resistance Instability and Improve First Pass Yield of Bumped Devices」がこの名誉あるAwardを受賞いたしました。

　本論文は、はんだバンプに対する当社のプローブカード（VSシリーズ）のコンタクト技術のすばらしさを主題としたもので、当社（プローブカードメーカー）とアルテラ社（米国半導体メーカー）、ITS社（クリニーングシートメーカー）の３社の共同発表です。

　当社は、今回の受賞を機に、プローブカードに対するさらなる狭ピッチ化、多ピン化、マルチ化、電極材料および電極構造の多様化や半導体製造のテストのパラダイムシフトに向けた技術課題に果敢にチャレンジし、今後とも業界の発展を通して社会に貢献してまいります。

　なお、SWTW（South West Test Workshop）とは、ＩＥＥＥのコンピューター専門部会が後援する
ウェーハテストに関する唯一の研究討論会で、メーカーやサプライヤーが参加し産業発展のための技術情報交換を行っています。
また、IEEE（Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.）とは、世界175ヶ国、36万以上の個人会員を持つ非営利の電気・電子技術者の組織で、国際会議の開催、論文誌の発行、技術教育、規格化などの活動を行っています。

　　　　　　　　　　　受賞論文　　　　　　　　　　　　　　　　｢Best Overall Award｣盾